Eine Sammlung von kleinen Programmen, die als Zusatzmaterial zu den Vorlesungen angeboten werden.

A collection of small programs, that are provided as additional lectures resources.

Seminars at INA:


Seminar in Optoelectronics I + II, FB16-3180

Studentenseminar Elektronik und Optoelektronik, FB16-5269

Studentenseminar Elektronik und Photonik, FB16-5273

Studentenseminar Mikrosystemtechnik und Nanotechnologie, FB16-2218


Infoveranstaltung über das Erstellen von Präsentationen/Short lecture on the preparation of presentations:

07.07.2017, 14:00-15:00, R -1606 (WA)



Seminar über aktuelle Forschungsthemen in der Optik.

Lecture on technologies used for the fabrication of microelectronic and optoelectronic devices.

Laborarbeiten zur praktischen Vertiefung der Grundlagen der Optik.


Die Einführung zum Praktikum "Angewandte Optik" findet am Dienstag, 30.05.17 um 14:00 im INA statt. Wir treffen uns hierfür im Eingangsbereich des Instituts.


Vorlesung über die Wechselwirkungen von Elektromagnetischen Wellen mit Strukturen im Nanometerbereich.

The lab training is part of the module of the lecture "Nanosensorics" for students in the courses Physik, Nanostrukturwissenschaften/Nanoscience and ECE. In the lab students will learn to work with three different methods that are presented in the lecture, i.e. scanning electron microscopy (SEM), ellipsometry and measurement of laser gain.

A kick-off meeting is scheduled always for mid of December and contains a lab and laser saftey introduction beside some important remarks on the lab work and reports. Personal participation in this meeting is absolutely mandatory to be admitted to working in the lab. The experimental work itself is taking place in January and early February.

Further information on the lab and kick-off meeting will be given in the lecture "Nanosensorics" and via moodle.


The next kick-off meeting for the lab will take place on December 16, 2016 at 4 pm, in R0446 (WA), after the lecture.

In this lecture various important methods to characterize structures on the micro- or nanometer scale and their application are presented. The topics cover techniques like: microscopy (limits of conventional methods and modern improvements), electron microscopy (SEM, TEM), ion beam optics (FIB, microscopes), ellipsometry, optical characterization of semiconductors (photo luminescence, laser gain, Raman spectroscopy), X-ray & electron diffraction, scanning probe microscopy (AFM, STM, MFM, SNOM).

In der Vorlesung wird eine Einführung in die Grundlagen der geometrischen Optik, der physiologischen Optik und Wellenoptik gegeben sowie wichtige technischen Anwendungen vorgestellt. Inhaltlich werden folgende Themen behandelt: Brechung und Reflexion, Näherungen der geometrischen Optik, optische Komponenten, Konstruktion von Strahlengängen, abbildende Systemen und deren Fehler, Eigenschaften des Auges, Photometrie, Farbmetrik, Lichtquellen, Zweistrahl- und Vielstrahlinterferenz, Beugung an Spalt und Gitter, Polarisation, Einführung zu Fourieroptik und Kohärenz.